为什么要开发批量热阻测试设备？

      1）客户需要热阻测试设备不仅能够自动测试热性能，还可以对结果进行有效的评估。

      2）客户需要热阻测试设备能够单次测试大批量的产品。

      3）客户对热阻设备与制造环境协同工作等都提出的一系列的要求。

      基于上述的客户需求，我们决定将T3Ster集成到更大型的设备当中。

       批量制造电子产品所面临的挑战之一是确保进入市场的零部件或产品的质量。随着时间的推移，生产过程中的原材料和工艺都会发生改变。产品设计中存在的缺陷可能会导致产品使用寿命的缩短，甚至在预期的生命周期的早期就出现故障。

       而批量测试零件及组件是零件供应商和系统集成商用以降低产品进入供应链后出现问题的一个方法。批量测试意味着设备需要测试一个大量的产品，甚至是生产线中的每一个产品或关键部件。无论产品是按顺序测试还是批量测试，大量样本的测试和评估都是需要尽可能的快速、自动和完整的。

       对大量样品进行热瞬态分析需要用一种不同的方法来设置和控制T3Ster，且它不会影响技术的保真度。大批量测试设置如图1所示，遵循以下步骤：

图1 图表展示了批量测试的操作以及与外界处理器的交互

       定义测量，仅需一次：

       * 根据器件和布局结构选择测量类型，以设置一组匹配的测试模式。

       * 设置测试参数，包括加热参数，感应参数以及测试时间等。

       * 定义评估标准，根据热瞬态结果或者结构函数，将产品分为GO/NO-go 或者待定等。

        给处理器提供待测部件信息（可以是有次序的或是一个组件或是一个模块），发送触发信号给批量测试仪开始测试。在低产量应用中，可以手动设置程序。而在高产量测试中，可以自动处理。

        批量热阻测试仪能够批量测试零部件，储存测试结果，如果需要也能够显示结果。与此同时，也可以根据结果进行自动评估，决策存储、接入临近的设备，并在需要时显示。批量热阻测试仪完成测试时，将有信号显示准备测试下一个部件或组件。当上一个测试结果评估确定该零件如何在供应链中被处理时，下一个测试环开始。

         目前开发了两个基于这种原理的系统原型机。

         其中一个如图2所示，同时测试两组8个LED, 他们被焊接在一块电路板上，当然用户也可以采用测试插槽而免焊接的方式将其固定。

图2 批量测试原型机

        该系统利用多个T3Ster测量通道来捕捉LED随时间变化的温度。

        在另一个测试装置中，测试一个带有多个单极型晶体管的电力电子板，以确保机遇应用文件和相应的装配热仿真中，所有这些设备在定义好的边界条件里都有它们自己的散热通道。关键点上捕捉到的数据及时确认封装结构的关键部分，比如芯粘合在可接受的边界内（如图3所示）。这两种测试方法和评估都是完全自动化的，只需一个触发信号。

图3 单极型晶体管失效测试的测试结果

        批量热阻测试仪在架构上是高度模块化的，允许多个供电通道，包括电力电子元件的电力可达数千安培，以及多个感应通道。在控制系统和接口中的灵活性，允许它集成到各种系统或相邻测量中，因此系统是可配置的，也可扩展的。在批量热阻测试项目中，核心模块是根据特定客户的需要来确定的。