Microsanj 公司近日发布了NT100系列热成像分析仪的最新产品—NT110A, 该仪器可对亚微米半导体的热分析提供最经济的解决方案。

        NT110A瞬态反射率热成像分析仪是台上式系统，可以提供时间分辨率高达5微秒的瞬态测试，与NT100A稳态反射率热成像分析仪一样，都具备了小于1微米的空间分辨率和1 摄氏度的相对温度分辨率。

        具备分析和深入理解微电子器件和光电子器件热性能的能力是优化设计、保障器件能效和长期稳定性的根本所在。Microsanj 公司最新研制的NT110产品，既是通过添加瞬态热成像功能，来分析随时间变化的热事件。尤其是对那些拥有复杂逻辑和高功耗热性能的器件，该功能显得更为重要。

        “随着器件尺寸的不断缩小以及复杂性的不断增加，给微电子器件热性能的深入研究造成了极大的阻碍。而基于反射率热成像技术的NT100A和NT110A热分析仪，可以通过非破坏性的方法为这些先进的器件提供高分辨率，高性能的经济化解决方案。该器件可用于电路设计验证、生产过程控制、可靠性评估和器件故障分析等方面。”       
                                                                                                     —— Microsanj 首席执行官 Shakouri博士

 

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