如何正确测量电子系统的温度并分析结果 2013年9月12日下午2点(美国东部时区时间)

ATS公司将举办主题
为“如何进行电子系
统的热测试”的研讨会。此次研讨会将在9月12日星期四下午2点(美国东部时区)开始，时间长达1小时，欢迎各位准时参加!
 

 参加人员将能从中学习到:

• 温度的重要性
• 不良数据的影响
• 传感器的类型以及如何对其选择使用
• 传感器类型及其使用案例
• 辐射对温度测试的影响
• 控制 时间常数的重要性
• 如何进行正确测试以防止错误的发生
• 热电耦误差的来源以及如何防止误差
• 使用红外线进行测量
• 校准的重要

谁应来参加?

• 负责实验装置的实验室技术人员
• 负责电子元器件热设计的机械工程师
• 需要深入了解测试知识的机械工程系学生

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热设计管理专家Kaveh Azar博士是ATS公司创立者和CEO，他将介绍如何正确测量电子系统的温度并分析结果。Azar博士积极致力于电子热设计领域，多次担任由ASME、IEEE及AIAA赞助的全国性和国际性会议的组织者、主席和主讲嘉宾。